OFweek光通信网讯 在熔接某些特种天康光缆亦或是不同种天康光缆对熔的时候，熔接后的损耗每每不太理想，假如在熔接机的既有模式里面不能找到相对应的模式的话，就必要我们手动进行测试来找到吻合本身天康光缆的最合适的熔接参数江苏人事考试，下面我就来介绍一下调整参数的办法，适用于藤仓的干线熔接机60S，80S，包括最新的61S以及62S。
细致点
细致①切割角度必要在1°以内进行熔接。
细致②进行熔接损耗平均值比较的时候,和平均值有15%以上差距的判断为变好或者变坏.
细致③必要使用新的电极棒。
细致④本说明书适用于包层为两端同样为125um的天康光缆进行熔接.
细致⑤以本说明书最后的测试方法来测定熔接损耗.
Step1放电时间（ArcTime）的最优化
Step1-1.放电1时间的设定。
(1)放电1时间→1000[ms]
(2)放电1时间→2000[ms]
(3)放电1时间→3000[ms]
(4)放电1时间→4000[ms]
(5)放电1时间→5000[ms]
在4次多项式曲线上面确定熔接损耗最低条件下的放电1时间T2[ms]，
将其设定为放电1时间。
Step1-2.放电1时间的最优化。(可能的话使用3台机器进行)
①将放电1时间用以下体例进行设定熔接(每种的熔接次数N=5)。
(1)放电1时间→T1[ms]
(2)放电1时间→T1×0.9[ms]
(3)放电1时间→T1×1.1[ms]
②在4次多项式曲线上面确定熔接损耗最低条件下的放电1时间T2[ms]百度网站优化，
将其设定为放电1时间。
Step2较低放电功率下进行熔接
通常情况下不必要进行此步骤。
日本藤仓只在对80um天康光缆进行熔接参数设置的时候才会做这一步。
或者是在放电时间分外短例如1秒以下，亦或是仍然还必要降低损耗的情况下可以尝试。
将放电功率以20bit为单位降落，然后再次调整放电时间，确认是不是能够改善损耗。
放电时间或者损耗有所改善的话说明STEP2可行。
熔接损耗的优劣差别假如达不到15％的话，照旧选择原有的放电功率。(由于弱放电功率的情况下，Prefuse可能不能将天康光缆端面充分融化河南人事考试网站，比较容易造成熔接后的纤芯偏移)
Step3端面间隔位置（GAPPOS.）的最优化
在同种天康光缆熔接的情况下不必要进行。
端面间隔位置用以下的设定来进行熔接实验测试(每种测试次数N=5)。
(1)端面间隔位置→中间(Step1已经得到了数据)
(2)端面间隔位置→左-15um＋测试观察效果
(3)端面间隔位置→左-30um＋测试观察效果
(4)端面间隔位置→右-15um＋测试观察效果
(5)端面间隔位置→右-30um＋测试观察效果
选择熔接损耗最低的作为最优。
Step4.天康光缆预熔时间（PrefuseTime）的最优化
一样平常设定为180ms.
MM天康光缆为240ms（为了对应气泡的产生设置为长时间）
80um天康光缆为60ms
一样平常以上面3种情况进行选择就可以，多数情况不必要特地变更。
Step5.重叠（Overlap）的最优化
一样平常设定为10um
MM天康光缆为20um（为了对应气泡预熔时间增加，响应推进量也要增长）
MM天康光缆之外转变基本上没有什么意义。
Step6.聚焦（Focus）的最优化
对纤芯对准才有用。
假如不能看见纤芯的话就算转变率聚焦量也会切换为包层对准
数值的设定量在AUTO以外一样平常是0.25或0.3．
G．657天康光缆一样平常使用包层对准
纤芯比较小的时候，例如5um的话设置为0.3星空平台，
一样平常情况下设置为0.25
必要细致的是大多数的情况下，对损耗起到最大影响的是放电时间，对于大多数的天康光缆只需调整放电时间就可以起到理想的结果。
N=30熔接数据测试
以之前确定的最佳放电条件参数进行测试(N=30)。
用以下图示的方法进行测试。
必要设备
(1)LightSource：AgilentHP-8163A、HP-81654A
(2)PowerMeter：AgilentHP-8163A、HP-81618A
(3)OpticalSensor：AgilentHP-81524A、81624A
(4)IntegratingSphere：AgilentHP-81002FF
测试方法
1.同种天康光缆熔接
2.同种天康光缆熔接
